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老化試驗(yàn)箱高低溫

簡要描述:

老化試驗(yàn)包括高低溫試驗(yàn),高低溫沖擊(冷熱沖擊試驗(yàn)),溫濕度實(shí)驗(yàn),進(jìn)行上述三項(xiàng)試驗(yàn),依次需要高低溫試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱。老化試驗(yàn)箱高低溫

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老化試驗(yàn)箱高低溫

購買老化試驗(yàn)箱,請(qǐng)選擇勤卓品牌高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱等 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,根據(jù)客戶的不同要求,東莞勤卓環(huán)測(cè)科技能量身定做各類型環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,滿足客戶的要求。

高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

標(biāo)準(zhǔn)

GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB2423.1試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法        

芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱是哪種?

一般來講,芯片測(cè)試常用的高低溫試驗(yàn)箱為LK-80G,產(chǎn)品具備高溫,低溫,濕熱等循環(huán)編程試驗(yàn),在國內(nèi)眾多的芯片企業(yè),均有使用到LK-80G高低溫試驗(yàn)箱。
歡迎訂購勤卓品牌高低溫試驗(yàn)箱,我司采取*高低溫試驗(yàn)箱,高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱,高低溫箱等環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,讓更多客戶采購高效耐用的高低溫試驗(yàn)箱。
一、芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
 1、溫度范圍:0℃~150、-20℃~150℃、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃
 2、濕度范圍:20%~98%R.H(溫度在15℃~80℃)
 3、溫度波動(dòng)度:≤&plsmn;0.5℃
 4、溫度均勻度:≤&plsmn;2℃
 5、濕度波動(dòng)度:+2%、-3%R.H
 6、升溫速度:1.0~3.0℃/min
 7、降溫速率:0.7~1.2℃/min
 8、時(shí)間設(shè)定范圍:0~9999h
 9、電源電壓:AC380V/50HZ

二、芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱規(guī)格(單位:mm):(可按客戶要求定做更大尺寸)
型號(hào) LK-80G  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸:970×1360×970
型號(hào) LK-150G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸:1070×1460×1070
型號(hào) LK-225G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸:1070×1610×1170
型號(hào) LK-408G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸:1170×1710×1270
型號(hào) LK-800G 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸:1550×1840×1290
型號(hào) LK-1000G內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸:1550×1840×1470

三、芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):
 1、采用全進(jìn)口高精度數(shù)顯溫濕度控制儀表,P.I.D高精度控制;
 2、精度:0.1、解析度:&plsmn;0.1℃,感溫傳感器:PT100鉑金電阻測(cè)溫體;
 3、溫度控制采用P.I.D+S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制;
 4、具有自動(dòng)演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定;
 5、控制器操作界面實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示;
 6、溫度循環(huán)系統(tǒng)采用耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī),多葉式離心風(fēng)輪;

四、芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng):
 1、壓縮機(jī):全封閉原裝法國泰康;
 2、制冷方式:單(雙)機(jī)制冷;
 3、冷凝方式:強(qiáng)制風(fēng)冷冷卻;
 4、電磁閥、油分離器、干燥過濾器、修理閥、冷媒流量視窗、貯液筒均采用進(jìn)口原裝件;

五、加熱、加濕系統(tǒng):
 1、高溫低溫濕熱*獨(dú)立系統(tǒng),采用遠(yuǎn)紅外鎳合金高速加溫電熱器;
 2、外置式鍋爐蒸汽式加濕器具有節(jié)能降耗功能,具有水位自動(dòng)補(bǔ)償;

六、芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱體材質(zhì):
 1、內(nèi)膽為進(jìn)口鏡面不銹鋼板(SS304);
 2、外殼均采用A3鋼板數(shù)控機(jī)床加工成型,外殼表面進(jìn)行噴塑處理,更顯光潔美觀;
 3、保溫材質(zhì)選用高密度玻璃纖維棉,保溫棉厚度為100mm/120mm;
 4、觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)設(shè)照明燈,內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜加熱除霜清楚觀察試驗(yàn)過程;
 5、門與箱體之間采用雙層耐高溫高漲性密封條以確保測(cè)試區(qū)的密閉;
 6、機(jī)器底部采用高品質(zhì)可固定式P活動(dòng)輪;
 7、箱體左側(cè)配直徑50mm測(cè)試孔一個(gè),可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用,孔徑或孔數(shù)增加需說明;

七、芯片常用的高低溫試驗(yàn)箱安全裝置:
    設(shè)備整體超溫、制冷系統(tǒng)過載、制冷系統(tǒng)超壓、漏電、缺水、運(yùn)行指示,故障報(bào)警后自動(dòng)停機(jī)等保護(hù);

八、可程式高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備使用條件:
 1、環(huán)境溫度:5℃~30℃、環(huán)境濕度:≤85%;
 2、機(jī)器放置前后左右各80公分不可放置東西;

老化試驗(yàn)箱高低溫

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